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版DDR3台湾
能测试DDR3的256*8/64*8/32*16/128*8/64*16颗粒IC。支持双Die封装的IC颗粒！
能测试和维修DDR3不开机黑屏错位点不亮的内存条module记忆体模组。
延续SD/DDR/DDR2的超强功能，
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整个测试系统都是建立在PC电脑主机板上，测试出来的OK内存条兼容性非常好。各位朋友知道，我们费尽几道工序做出来的产品内存条，终要插在主机板上，搭配显卡CPU硬盘等硬件，组装电脑的。若是兼容性不好，品质不可靠，不光客户抱怨，而且返修非常费时费事。
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大家看到的听说的其它家测试仪，是单片机平台，所测试出来的内存条的兼容性自己想想看？
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同样，测试IC芯片颗粒，也是如此。测出来的IC芯片颗粒不但准确，而且兼容性好！对IC芯片颗粒能分区、降级、挑拣利用。用测试OK的IC芯片颗粒做出来的内存条，品质同样可靠！
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可以测试市场上比较少见的规格型号。Data数据线是4 bit的IC芯片颗粒。例如：
SDRAM 16x4; SD 32x4;
DDR 16x4; DDR 32x4: DDR 64x4;
DDRII 64x4; DDR2 128x4。
也可以测试、维修以上4bit的内存条。
5、新增支援高容量的IC规格，例如256*8；128*8；64*16；
功能介绍说明(SD/DDR/DDR2)
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测试的辅助帮手,方便实用的维修利器。
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dram memory业界十三年资深经验的工程师编程撰写。
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能测试DDR和DDR2的16M*16, 32M*8 , 32M*16, 64M*16，64M*8, 128M*8 IC颗粒;能测出具体的单个降级bit位数,能测出具体降级的切割Address区块。能批量测试SD1M*16, SD 4M*16, SD 8M*16, SD 16M*16, SD 32M*8 IC, SD 32M*16 IC颗粒。
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能测试SD/DDR/DDR2以上IC做成的电脑内存条成品,有burn in烤机程序,有R.S.T烤机程序。
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能维修SD/DDR/DDR2以上IC做成的电脑内存条不良品(包含不开机、点不亮不良品),对于不开机内存条可以很快准确找出坏位，很容易维修。
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能维修双面16颗粒IC做成的不开机内存条,能准确的抓出坏位;适用于1RANK双面补位的, 2RANK双面补深度的。
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应用产品范围广泛,可根据需要来自由设置Sorting挑选顺序。
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自由设置检测严谨度和环境参数,测试时间长短可自由设置，可提高产能。
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比起同类功能的仪器,价格、费用、维护、操作使用等都占有很多优点,深受新老客户的好评。
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价格优惠适中,操作简单,不易损坏;技术支持好,升级更新方便。
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级应用于内存芯片的长度,宽度检测，深度容量分区,内存条生产，检测，维修。
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使用方便，准确，快速，先进。
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检测64位数据线故障显示，DQ0-DQ63数据位坏区检测显示，A0-A16地址故障显示。
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屏幕自动显示SPD数据内容。内含专门的SPD编辑烧录程序,操作简单方便。
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全自动适用各种频率的DDR2内存芯片、内存条。
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独有的内存分区技术，使废品下线;内存芯片经分区之后成为缺位降级down grade内存芯片,增加其利用价值。
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新增检测开短路的功能，对数据线，地址线，都能很准确的检测出来，到具体哪一根线。光这一项功能可超过市场上一整台内存检测仪器。
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能测试市面常见的各种规格型号的IC颗粒和模组;能测出具体的单个降级bit位数,例如：64*8测到64*4（12#，13#，14#，23#，24#，34#）能测出具体的切割Address区块。（例如：64*8测到32*8A，32*8B，32*8C，32*8D，，